| 是否进口：否 | 产地：济南 | 加工定制：否 |
| 品牌：济南三泉中石 | 型号：CHY-HS |
数显硅片薄膜厚度仪-设备介绍
在电极铝箔材料中，使用时测量它的厚度是非常重要的，因为电极铝箔片的厚度不同，就会关系到电极能不能正常工作，尤其是在一些大规模的集成电路中，电极铝箔厚度的微小变化，都会产生直接的影响。那么，怎么对电极铝箔片进行准确测量呢？
济南三泉中石生产的CHY-HS数显硅片薄膜厚度仪适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度准确测量，误差小，操作简单方便。
技术特征
1.配备微型打印机，数据实时显示、自动统计、打印，方便快捷地获取测试结果 ；
2.打印数值及每次测量结果，方便用户分析数据 ；
3.仪器自动保存达100组测试结果，随时查看并打印 ；
4.标准量块标定,方便用户快速标定设备 ；
5.配备自动进样器，可一键实现全自动多点测量，误差小 ；
6.提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户；
7.配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输。
技术参数
测量范围 ：0-2mm （其他量程可定制）
分辨率 ：0.1um
测量速度 ： 10次/min（可调）
测量压力 ：17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）
接触面积 ：50mm?（薄膜），200mm?（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种
进样步矩 ： 0 ～ 1300 mm(可调)
进样速度 ： 0 ～ 120 mm/s(可调)
机器尺寸： 450mm×340mm×390mm (长宽高)
重 量： 23Kg
工作温度：15℃-50℃
试验环境：无震动，无电磁干扰
工作电源：220V 50Hz
参照标准
GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、
***4593、***534、***3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、
JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817
数显硅片薄膜厚度仪-设备介绍
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